CARACTERIZACIÓN DEL DAÑADO ELECTRÓNICO RESIDUAL TRAS PROCESOS DE IMPLANTACION IO
***TESIS DOCTORALES MICROFICHA***
978-84-7762-935-1 / 9788477629351
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6,25 €
- No disponible temporalmente
- Autor: PINACHO GOMEZ, RUTH
- Editorial: UNIVERSIDAD DE VALLADOLID-SECR
- ISBN: 978-84-7762-935-1
- EAN: 9788477629351
- Año: 2011
- Colección: Tesis doctorales
- Nº páginas: 3
- Encuadernación: Rústica
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Catálogo
- Ámbito Geográfico
- Biografía e historias reales
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