BACKSCATTERED SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND IMAGE ANALYSIS OF SEDIMENTS AND S
978-0-521-01974-3 / 9780521019743
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- Autores: DAVID H. KRINSLEY, KENNETH PYE, SAM JR. BOGGS, KRINSLEY, DAVID H., PYE, KENNETH, BOGGS, SAM, JR.
- Editorial: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS
- ISBN: 978-0-521-01974-3
- EAN: 9780521019743
- Año: 2020
- Colección: < Genérica >
- Nº páginas: 204
- Encuadernación: Rústica
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