CMOS GATE-STACK SCALING - MATERIALS, INTERFACES AND RELIABILITY             IMPL

CMOS GATE-STACK SCALING - MATERIALS, INTERFACES AND RELIABILITY IMPL

978-1-60511-128-5 / 9781605111285
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  • Autor:
  • Editorial: Materials Research Society
  • ISBN: 978-1-60511-128-5
  • EAN: 9781605111285
  • Año: 2020
  • Colección: < Genérica >
  • Nº páginas: 194
  • Encuadernación: Cartoné
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